Preview

СибСкрипт

Расширенный поиск

СТАТЬЯ ОТОЗВАНА: ОКИСЛЕНИЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК МЕДИ АММИАКОМ

Аннотация

Об авторах

Э. П. Суровой
КемГУ
Россия


Н. В. Борисова
КемГУ
Россия


С. П. Говорина
КемГУ
Россия


Л. Н. Бугерко
КемГУ
Россия


Список литературы

1. Краткая химическая энциклопедия. Т. 3. -М.: Советская энциклопедия, 1964. - 1112 с.

2. Преснякова, А. А. Бескислородная медь / А. А. Преснякова. - Алма-Ата: Наука, 1985. - 136 с.

3. Стриха, В. И. Физические основы надежности контактов металл - полупроводник в интегральной электронике / В. И. Стриха, Е. В. Бузанева. - М.: Радио и связь, 1987. - 254 с.

4. Индутный, И. З. Фотостимулированные взаимодействия в структурах металл - полупроводник / И. З . Индутный, М. Т. Костышин, О. П. Касярум и др. - Киев: Наукова думка, 1992. - 240 с.

5. Суровой, Э. П. Закономерности формирования продуктов фотолиза систем азид серебра - медь / Э. П. Суровой, С. М. Сирик, Л. Н. Бугерко // Материаловедение. - 2006. - № 3. - С. 17 - 24.

6. Richardson, T. J. Electrochromism in copper oxide thin films / T. J. Richardson, J. L. Slack, M. D. Rubin // 4th International Meeting on Electrochromism. - 2000. - P. 298 - 304.

7. Zhou, G. Self-assembly of metal-oxide nanostructures: oxidation of Cu films by In situ UHV-TEM / G. Zhou, J. C Yang // Materials at high temperatures. - 2003. - V. 20 (3). - P. 247 - 252.

8. Akan, T. Variation in thickness of copper films deposited at various distances and angles using the thermionic vacuum arc / T. Akan, N. Ekem // Turk J Phys. - 2003. - V. 27. - P. 219 - 224.

9. Njeh, A. Reflectometry studies of the oxidation kinetics of thin copper films / А. Njeh, Т. Wieder, Н. Fuess // Surf. Interface Anal. - 2002. - V. 33. - P. 626 - 628.

10. Zhou,G. Dynamics of copper oxidation investigated by in situ UHV-TEM // Dissertation … Doctor of Philosophy degree - University of Pittsburgh, 2003. - 146 с.

11. Самсонова, Г. В. Физико-химические свойства окислов: справочник. - М.: Металлургия, 1969. - 456 с.

12. Волькенштейн, Ф. Ф. Физико-химия поверхности полупроводников / Ф. Ф. Волькенштейн. - М.: Наука, 1972. - 399 с.

13. Лазарев, В. Б. Химические и физические свойства простых оксидов металлов / В. Б. Лазарев, В. В. Соболев, И. С. Шаплыгин. - М.: Наука, 1983. - 239 с.

14. Борисова, Н. В. Формирование систем «медь - оксид меди (I)» в процессе термической обработки пленок меди / Н. В. Борисова, Э. П. Суровой, И. В. Титов // Материаловедение. - 2006. - № 7. - С. 16 - 21.

15. Вертопрахов, В. Н. Термостимулированные токи в неорганических веществах / В. Н Вертопрахов, Е. Г Сальман. - Новосибирск: Наука, 1979. - 336 с.

16. Борисова, Н. В. Закономерности формирования наноразмерных систем «алюминий - оксид алюминия» в процессе термической обработки пленок алюминия / Н. В. Борисова, Э. П. Суровой // Коррозия: материалы, защита. - 2007. - № 6. - С. 13 - 18.

17. Эпштейн, М. И. Измерения оптического излучения в электронике / М. И. Эпштейн. - Л.: Энергоатомиздат, 1990. - 256 с.

18. Томашов, Н. Д. Теория коррозии и защиты металлов / Н. Д. Томашов. - М.: Изд-во АН СССР, 1960. - 592 с.

19. Хауффе, К. Реакции в твердых телах и на их поверхности / К. Хауфе. - М.: Иностр. лит-ра, 1962. - 415 с.

20. Кубашевский, О. Окисление металлов и сплавов / О. Кубашевский, Б. Гопкинс. - М.: Металлургия, 1965. - 429 с.

21. Барре, П. Кинетика гетерогенных процессов / П. Баре. - М.: Мир, 1976. - 400 с.

22. Roy, S. K. A critical analysis of Mott-cabrera's equation in the low temperature oxidation of copper and its alloys / S. K. Roy, S. C. Sircar // Journal of Electrochem Soc. - 1981. - V. 30 (2). - P. 179 - 191.

23. Кофстад, П. Отклонение от стехиометрии, диффузия и электропроводность в простых окислах металлов / П. Кофстад. - М.: Мир, 1975. - 399 с


Рецензия

Для цитирования:


Суровой Э.П., Борисова Н.В., Говорина С.П., Бугерко Л.Н. СТАТЬЯ ОТОЗВАНА: ОКИСЛЕНИЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК МЕДИ АММИАКОМ. Вестник Кемеровского государственного университета. 2008;(1):101-106.

Просмотров: 119


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2949-2122 (Print)
ISSN 2949-2092 (Online)